電子元器件篩選技術要求GJB7243-201113.2
服務項目 |
電子元器件篩選,高低溫貯存,溫度循環,功率老煉 |
面向地區 |
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電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 13.2
樣品：光電子器件檢測、分立器件結構晶體振蕩器檢測、分立器件結構晶體振蕩器檢測、混合電路結構晶體振蕩器檢測、二極管檢測、晶體管檢測、單片集成電路檢測
1.內部目檢 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
2.溫電參數測試 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
3 高溫貯存 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
4 溫度循環 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
5 恒定加速度 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
6 PIND 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
7 初始電參數測試 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
8 高溫反偏 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
9 中間電參數測試 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
10 功率老煉 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
11老煉后電參數測試 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
12 高溫電參數測試 電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 17.2
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