冷鏡式露點儀原理
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。
被測濕氣進入露點測量室時掠過冷鏡面，當鏡面溫度濕氣的露點溫度時，鏡面呈干燥狀態，此時光電檢露裝置中光源發出的光照在鏡面上，幾乎完全反射，由光電傳感器感應到并輸出光電信號，經控制回路比較、放大、驅動熱電泵，對鏡面致冷。當鏡面溫度降至濕氣露點溫度時，鏡面上開始結露（霜），光照在鏡面上出現漫反射，光電傳感器感應到的反射信號隨之減弱，此變化經控制回路比較、放大后調節熱電泵激勵，使其制冷功率適當減小，后，鏡面溫度保持在樣氣露點溫度上。鏡面溫度由一緊貼在冷鏡面下方的鉑電阻溫度傳感器感應，并顯示在顯示窗上。新能源公司儀器外校

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種大型精密儀器，它利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像。在1932年，Knoll提出了掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于成像放大的概念，并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而，由于不能獲得高分辨率的樣品表面電子像，SEM一直未能得到進一步發展，僅被用作電子探針X射線微分析儀中的輔助成像裝置。

直到1938年，德國科學家阿登納成功研制出臺采用縮小透鏡用于透射樣品的SEM。此后，在眾多科學家的努力下，SEM從理論到儀器結構等方面的問題逐漸得到解決。
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1965年，英國劍橋儀器公司生產的臺SEM作為商品出現，它采用二次電子成像技術，分辨率為25納米，使SEM進入了實用階段。

1968年，Knoll在美國芝加哥大學成功研制出場發射電子槍，并將其應用于SEM，獲得了較高分辨率的透射電子像。1970年，他發表了用掃描透射電鏡拍攝的鈾和釷中的鈾原子和釷原子像，這使SEM又進入了一個新的領域。

2021年，全數字化掃描電子顯微鏡新品在無錫惠山發布，標志著SEM技術的不斷發展和進步。

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