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,信號完整性眼圖測試 |
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通過電磁仿真與去嵌入技術,解析芯片封裝引線電感、寄生電容對高速信號的影響,指導BGA封裝設計與信號引腳分配,降低高速SerDes鏈路的信號完整性風險。
通過高速示波器捕獲信號眼圖,量化眼高、眼寬及抖動參數,驗證SerDes鏈路在極限碼型下的時序裕量,滿足56G/112G PAM4等高階調制系統的誤碼率(BER)要求。
針對高速傳輸線的阻抗匹配需求,通過時域反射(TDR)技術分析路徑阻抗變化,定位PCB走線、連接器或過孔處的阻抗突變點,降低信號反射與失真風險,適用于PCIe/USB等高速接口設計驗證。
集成SPICE電路模型與電磁場仿真工具,分析高速信號對電源網絡的噪聲耦合路徑,優化電源分割與跨分割信號的回流設計,降低混合信號系統的串擾風險。
集成可編程阻抗匹配電路,實時校準因溫度、老化引起的傳輸線阻抗漂移,確保自動駕駛車載攝像頭鏈路在寬溫范圍內的穩定性。
驗證USB4/DP Alt Mode等多協議復用通道的信號完整性兼容性,優化復用開關與阻抗切換電路設計,確保多功能接口的協議自適應能力。
主營行業:檢測服務 |
公司主營:零件清潔度測,可靠性及量測,聲壓級聲功率檢測,材料檢測--> |
主營地區:深圳、昆山、成都、武漢、煙臺、鄭州等 |
企業類型:有限責任公司 |
公司成立時間:1996-01-01 |
員工人數:1000 人以上 |
研發部門人數:201 - 300 人 |
經營模式:服務型 |
經營期限:1949-01-01 至 2032-01-01 |
最近年檢時間:2022年 |
是否提供OEM:否 |
公司郵編:215300 |
公司電話:0512-57785888-76633 |
公司郵箱:youerhx_ksmarket@126.com |
公司網站:www.urhongxin.com |
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