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冷鏡式露點儀

冷鏡式露點儀，利用熱電制冷器冷卻露點傳感器的鏡面或聲表面波器件，使氣體中的水蒸氣在露點傳感器的鏡面上冷凝為露或霜，光電系統自動控制平衡，使鏡面上的露或霜與氣體中的水蒸氣呈相平衡狀態，用鉑電阻溫度計準確測量鏡面上露層或霜層的溫度，從而獲得氣體的露點溫度。

該方法的主要優點是精度高，尤其在采用半導體制冷和光電檢測技術后，不確定度甚至可達0.1℃；缺點是價格較高，對操作人員的要求較高，并需進行維護。對污染物敏感。響應速度較慢，尤其在露點-60℃以下，平衡時間甚至達幾個小時。

該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前國際上達到±0.1℃(露點溫度)，一般精度可達到±0.5℃以內。

目前世界上生產冷鏡式露點儀的公司，例如美國的GE、Edgetech、瑞士的MBW等公司均是采用這一原理，英國的MICHELL則是采用雙光路檢測系統，即同時對反射光及散射光進行檢測，芬蘭Vaisala則是利用聲波作檢測系統。

電傳感器式露點儀

采用親水性材料或憎水性材料作為介質，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經后，介電常數或電導率發生相應變化，測出當時的電容值或電阻值，就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器，構成了電傳感器式露點分析儀。國際上達到±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達到±3℃以內。

目前世界上生產電傳感器式露點儀的公司，如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING、一般精度可達到±3℃以內。還有VAISALA公司的DMT242、DMT143，DMT340系列。新能源公司儀器外校

可燃氣體報警器及所有的防爆電氣設備均是以能適用于危險場所為目的進行設計的，由于電氣設備的種類設備使用環境中的氣體或蒸氣的種半導體傳感器
每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和受到充電激勵的晶格產生共振，其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
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掃描電子顯微鏡（SEM）是一種大型精密儀器，它利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像。在1932年，Knoll提出了掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于成像放大的概念，并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而，由于不能獲得高分辨率的樣品表面電子像，SEM一直未能得到進一步發展，僅被用作電子探針X射線微分析儀中的輔助成像裝置。

直到1938年，德國科學家阿登納成功研制出臺采用縮小透鏡用于透射樣品的SEM。此后，在眾多科學家的努力下，SEM從理論到儀器結構等方面的問題逐漸得到解決。
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1965年，英國劍橋儀器公司生產的臺SEM作為商品出現，它采用二次電子成像技術，分辨率為25納米，使SEM進入了實用階段。

1968年，Knoll在美國芝加哥大學成功研制出場發射電子槍，并將其應用于SEM，獲得了較高分辨率的透射電子像。1970年，他發表了用掃描透射電鏡拍攝的鈾和釷中的鈾原子和釷原子像，這使SEM又進入了一個新的領域。

2021年，全數字化掃描電子顯微鏡新品在無錫惠山發布，標志著SEM技術的不斷發展和進步。

掃描電子顯微鏡主要利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。新能源公司儀器外校