電子電器全參數檢測專項實驗室-廣電計量實驗室
服務項目 |
第三代半導體,功率模塊,電學性能,可靠性測試 |
面向地區 |
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行業類型 |
電子電器 |
隨著新能源汽車半導體功率電子國產化的發展,廣電計量引進國際的測試技術,基于LV/AQG324認證標準,為功率半導體產業上下游企業提供功率模塊電學性能檢測,材料、器件與系統的可靠性測試以及失效分析。技術帶來了驗證技術新的挑戰,廣電計量以LV/AQG324認證試驗為基礎,積極布局第三代半導體功率模塊的可靠性業務領域,助力器件國產化、高新化發展。
靜態參數:
Drain to Source Breakdown Voltage,Drain Leakage Current,Gate Leakage Current,Gate Threshold Voltage,Drain to Source On Resistance,Drain to Source On Voltage,Body Diode Forward Voltage,Internal Gate Resistance,Input capacitance,Output capacitance,Reverse transfer capacitance,Transconductance,Gate to Source Plateau Voltage
動態參數:
Turn-on delay time,Rise time,Turn-off delay time,Fall time,Turn-on energy,Turn-off energy,Diode reverse recovery time,Diode reverse recovery charge,Diode peak reverse recovery current,Diode peak rate of fall of reverse recovery current,Total gate charge,Gate-Emitter charge,Gate-Collector charge
其他參數:
thermal resistance,Unclamped Inductive Switching,Reverse biased safe operating area,Short circuit safe operation area
產品范圍:
適用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半導體器件等元件構成的功率模塊。
測試項目:
TST,V,MS,PCsec,PCmin,HTS,LTS,HTRB,HTGB,H3TRB,Lp,Rth,
測試標準:
IEC 60749-25,DIN EN 60068-2-6,DIN EN 60068-2-27,IEC 60749-34,IEC 60749-34,IEC 60749-6,JEDEC JESD-22 A119,IEC 60747-9,IEC 60747-9,IEC 60749-5,IEC 60747-15,DIN EN 60747-15
廣州廣電計量檢測股份有限公司(股票簡稱:廣電計量,股票代碼:002967)始建于1964年,是原信息產業部電子602計量站,經過50余年的發展,現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等技術服務,在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內水平.
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