冷鏡式露點儀原理
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。
被測濕氣進入露點測量室時掠過冷鏡面，當鏡面溫度濕氣的露點溫度時，鏡面呈干燥狀態，此時光電檢露裝置中光源發出的光照在鏡面上，幾乎完全反射，由光電傳感器感應到并輸出光電信號，經控制回路比較、放大、驅動熱電泵，對鏡面致冷。當鏡面溫度降至濕氣露點溫度時，鏡面上開始結露（霜），光照在鏡面上出現漫反射，光電傳感器感應到的反射信號隨之減弱，此變化經控制回路比較、放大后調節熱電泵激勵，使其制冷功率適當減小，后，鏡面溫度保持在樣氣露點溫度上。鏡面溫度由一緊貼在冷鏡面下方的鉑電阻溫度傳感器感應，并顯示在顯示窗上。新能源公司儀器外校

電傳感器式露點儀原理

采用親水性材料或憎水性材料作為介質，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經后，介電常數或電導率發生相應變化，測出當時的電容值或電阻值，就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器，構成了電傳感器式露點分析儀。
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電傳感器式露點儀原理
利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上積累電荷的特性，設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。

晶體振蕩式露點儀原理

利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點儀。晶體振蕩式露點儀的敏感元件是水感性石英晶體，它是在石英晶體表面涂覆了一層對水敏感 （容易吸濕也容易脫濕）的物質。當濕性樣品氣通過石英晶體時，石英表面的涂層吸收樣品氣中的水分，使晶體的質量增加，從而使石英晶體的振蕩頻率降低。

紅外露點儀原理原理

利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點儀。
半導體傳感器
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每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和受到充電激勵的晶格產生共振，其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。新能源公司儀器外校

可燃氣體報警器及所有的防爆電氣設備均是以能適用于危險場所為目的進行設計的，由于電氣設備的種類設備使用環境中的氣體或蒸氣的種半導體傳感器
每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和受到充電激勵的晶格產生共振，其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
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掃描電子顯微鏡（SEM）是一種大型精密儀器，它利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像。在1932年，Knoll提出了掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于成像放大的概念，并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而，由于不能獲得高分辨率的樣品表面電子像，SEM一直未能得到進一步發展，僅被用作電子探針X射線微分析儀中的輔助成像裝置。

直到1938年，德國科學家阿登納成功研制出臺采用縮小透鏡用于透射樣品的SEM。此后，在眾多科學家的努力下，SEM從理論到儀器結構等方面的問題逐漸得到解決。
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1965年，英國劍橋儀器公司生產的臺SEM作為商品出現，它采用二次電子成像技術，分辨率為25納米，使SEM進入了實用階段。

1968年，Knoll在美國芝加哥大學成功研制出場發射電子槍，并將其應用于SEM，獲得了較高分辨率的透射電子像。1970年，他發表了用掃描透射電鏡拍攝的鈾和釷中的鈾原子和釷原子像，這使SEM又進入了一個新的領域。

2021年，全數字化掃描電子顯微鏡新品在無錫惠山發布，標志著SEM技術的不斷發展和進步。

鏡筒

鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統。其作用是產生很細的電子束(直徑約幾個nm)，并且使該電子束在樣品表面掃描，同時激發出各種信號。
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