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MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

更新時間:2025-09-07 編號:e43i8imuuf7915
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MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

關鍵詞
功率器件失效分析,功率器件失效根因分析,元器件失效分析
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基本介紹

受益于國產替代趨勢,國內功率器件廠商迎來發展機遇。在快速成長中,廠商迫切希望減少或消除產品品質異常,并在研發、量產工藝、可靠性測試等階段及時改進,以迅速市場。

功率MOSFET失效主要含器件的封裝失效及晶圓失效兩方面:

封裝失效通常出現在各種模擬實際使用的加速可靠性試驗中,常表現為封裝結構、材料的各種失效現象。

晶圓失效在實際應用過程中出現多,并且失效樣品送原廠分析后,得到的結論通常是“過電應力EOS”,但樣片失效的具體原因及根本原因很難進行下一步的分析。

廣電計量通過承接市面上大量MOSFET失效分析工作,系統梳理了不同應力條件造成的失效表現,特別是雪崩、過流、過壓等過電應力導致的失效現象及細節分析,為器件廠及使用方提供分析改善依據。


服務范圍

MOSFETIGBTDIODEBJT,三代半導體器件等分立器件,以及上述元件構成的功率模塊

檢測標準

 GJB548B-2005微電子器件試驗?法和程序

 GJB8897-2017電子元器件失效分析要求與?法

 QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

檢測項目

試驗類型試驗項?
?損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡
電特性/電性定位分析電參數測試、IV&CV 曲線量測、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 測試與三溫(常溫/低溫/高溫) 驗證
破壞性分析開封、去層、切片、芯片級切片、推拉力測試
微觀顯微分析DB FIB切片截?分析、FESEM 檢查、EDS微區元素分析、掃描電鏡、透射電鏡

廣電計量的優勢

廣電計量擁有業界的團隊及的失效分析設備,專注功率器件失效根因分析,可為客戶提供完整的失效根因分析服務,針對產品的研發設計、來料檢驗、加?組裝、測試篩選、客戶端使用等各個環節,為客戶提供失效分析咨詢、協助客戶開展設計規劃、以及分析測試服務。


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公司介紹

廣電計量檢測集團股份有限公司(股票簡稱:廣電計量,股票代碼:002967)始建于1964年,于2019年11月8日登陸中小企業板, 是廣州無線電集團旗下的三家A股上市公司。

廣電計量是原信息產業部電子602計量站,經過50余年的發展,現已成為一家全國化、綜合性的國有三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等技術服務,在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內水平。

廣電計量的技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可和授權,通過了中國合格評定國家認可認可(CNAS),獲得檢驗檢測機構資質認定(CMA)、農產品質量安全檢測機構(CATL)以及眾多和行業機構的認可資質,是農業部“三品一標”檢測實驗室、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室,出具的證書、報告具有國際公信力,可幫助客戶穩健開拓本地市場乃至市場。

廣電計量構建了覆蓋全國的服務保障網絡,在國內建有23個計量檢測基地和50多家分子公司,實驗室總面積超過16萬平方米,配置國內外設備儀器30000多臺/套,搭建的全國一體化計量檢測與認證技術公共服務平臺,可迅速響應客戶需求,為客戶提供近距離、本地化的服務。

作為一家擁有高度社會責任感的國有企業,廣電計量以助推各區域經濟發展、助力企業品質提升為己任。目前,廣電計量的服務能力覆蓋汽車、航空、軌道交通、船舶、通信、電力、電子電器、食品、環保、農業、醫療、石化等領域,憑借的計量檢測技術之力,廣電計量可幫助各行業產業鏈上下游客戶提升自身競爭力,實現產品全壽命周期的質量管控。

在品質決勝未來的發展新時代,廣電計量將繼續秉持科學、公正、準確、快捷、周到的服務理念,為發展傳遞信任,為建設“和諧美麗”中國保駕!

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